
產品型號:
更新時間:2025-12-03
廠商性質:代理商
訪 問 量 :34
028-68749778
產品分類
| 品牌 | OTSUKA/日本大塚 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
日本OTSUKA大塚線掃描膜厚計®離線型

日本OTSUKA大塚線掃描膜厚計®離線型是一款專為離線檢測設計的高精度、高效率膜厚測量設備。該產品采用線掃描技術,能夠實現對薄膜樣品的快速、非接觸式測量,廣泛應用于半導體、顯示面板、光學材料及薄膜制造等領域。
?核心技術與特點?:
?線掃描測量方式?:與傳統的點測量方式不同,該設備采用線掃描技術,能夠一次性測量整條線上的膜厚分布,大大提高了測量效率。
?高精度與高再現性?:設備具備高精度、高再現性的測量能力,能夠準確捕捉薄膜厚度的微小變化,確保測量結果的可靠性。
?非接觸式測量?:采用非接觸式測量方式,避免了對樣品的損傷,同時適用于各種形狀和材質的樣品。
?寬幅樣品測量?:可對應寬幅樣品測量,滿足大尺寸薄膜的測量需求。
?獨立測量頭設計?:設備配備獨立測量頭,支持定制化集成到各種測量系統中,滿足離線檢測需求。
?應用場景?:
?半導體行業?:用于測量晶圓上的薄膜厚度,如SiO?、SiN等絕緣膜,以及光刻膠的厚度控制。
?顯示面板行業?:適用于LCD、TFT、OLED等顯示器的薄膜測量,確保顯示質量。
?光學材料行業?:用于測量濾光片、抗反射膜等光學薄膜的厚度和光學常數。
?薄膜制造行業?:支持各種薄膜材料的厚度測量,如AR膜、HC膜、PET膜等。
?優勢與價值?:
該離線型線掃描膜厚計以其高效、精準的測量能力,為離線檢測提供了強有力的支持。其非接觸式測量方式保護了樣品,同時寬幅測量能力滿足了大規模生產的需求。此外,設備的獨立測量頭設計使得其能夠靈活集成到各種測量系統中,實現自動化檢測,提高了檢測效率