
產(chǎn)品型號:
更新時間:2025-12-03
廠商性質(zhì):代理商
訪 問 量 :52
028-68749778
產(chǎn)品分類
| 品牌 | OTSUKA/日本大塚 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
日本OTSUKA大塚膜厚測定多通道分光器MCPD

日本OTSUKA大塚膜厚測定多通道分光器MCPD
日本OTSUKA大塚電子推出的MCPD系列多通道分光器,是一款專為膜厚測量及光學(xué)特性分析設(shè)計的高性能儀器。該系列憑借其高速、高精度、高動態(tài)范圍及低雜散光等特性,在半導(dǎo)體、顯示面板、光學(xué)材料等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。
MCPD系列的核心競爭力在于其突破性的光學(xué)設(shè)計。它采用閃光全息照相型光柵分光系統(tǒng),配合電子冷卻型CCD或InGaAs圖像傳感器,實現(xiàn)了從紫外到近紅外波段(220nm-1600nm)的高速光譜測量,最短曝光時間僅5毫秒。這一特性使其能夠捕捉快速變化的光譜信號,滿足生產(chǎn)線上的即時檢測需求。同時,該系列具備動態(tài)范圍(可達(dá)1,000,000:1以上),能在一次測量中同時捕獲強和極弱的光信號細(xì)節(jié),無需多次曝光即可準(zhǔn)確分析從高亮度光源到微弱熒光的各種樣本。
在膜厚測量方面,MCPD系列表現(xiàn)出色。它支持多層膜解析,最多可分析50層薄膜結(jié)構(gòu),適用于半導(dǎo)體晶圓上的氧化膜、氮化膜、光阻膜等薄膜的厚度測量。此外,該系列還具備物體顏色測量、光源顏色評估(色度、輝度、照度)、熒光測量等多種功能,滿足不同應(yīng)用場景的需求。
MCPD系列還注重用戶體驗和便捷性。它采用小巧輕量化設(shè)計,體積比舊機型減少約60%,便于集成到各種復(fù)雜的測量系統(tǒng)中。同時,該系列配備USB和LAN通信接口,支持遠(yuǎn)程測量和自動化檢測,為集成應(yīng)用提供了便利。用戶還可以通過專用軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)采集、存儲和處理,實現(xiàn)全面的光譜分析功能。
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