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表面測(cè)定儀
KOSAKA/小坂研究所
日本KOSAKA小坂粗糙度測(cè)量機(jī)SEF580A-G18D

產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2025-11-18
廠商性質(zhì):代理商
訪 問 量 :56
028-68749778
產(chǎn)品分類
| 品牌 | KOSAKA/小坂研究所 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
日本KOSAKA小坂粗糙度測(cè)量機(jī)SEF580A-G18D

日本KOSAKA小坂粗糙度測(cè)量機(jī)SEF580A-G18D粗糙度輪廓一體機(jī),是一款集高精度表面粗糙度測(cè)量與輪廓形狀分析功能于一體的精密儀器,廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工、半導(dǎo)體制造、光學(xué)元件檢測(cè)等領(lǐng)域。其核心性能參數(shù)與功能特點(diǎn)如下:
?一、核心測(cè)量參數(shù)?
?表面粗糙度測(cè)量?:
?縱向測(cè)量范圍?:Z軸可達(dá)600μm,分辨率精細(xì)至0.08納米,可捕捉微米級(jí)表面細(xì)節(jié)。
?觸針規(guī)格?:配備R2μm鉆石觸針,測(cè)量力低至0.75mN,避免對(duì)軟質(zhì)材料(如塑料、薄膜)造成劃傷。
?進(jìn)給速度?:支持0.02-10mm/秒多檔調(diào)節(jié),適應(yīng)不同材質(zhì)表面的測(cè)量需求。
?輪廓形狀測(cè)量?:
?橫向測(cè)量范圍?:X軸最大100mm,采樣點(diǎn)數(shù)高達(dá)64,000點(diǎn),實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)距離高分辨率測(cè)量。
?測(cè)量精度?:Z軸精度±0.25%(廠商標(biāo)準(zhǔn)),X軸精度±(1+0.02L)μm(L為測(cè)量長(zhǎng)度),確保復(fù)雜輪廓的精確復(fù)現(xiàn)。
?觸針規(guī)格?:采用R25μm觸針,測(cè)量力10-30mN可調(diào),適用于硬質(zhì)材料(如金屬、陶瓷)的輪廓分析。
?二、功能特點(diǎn)?
?多標(biāo)準(zhǔn)兼容性?:支持JIS、ISO、ANSI、DIN等國(guó)際規(guī)范,可同時(shí)解析多種標(biāo)準(zhǔn)參數(shù),實(shí)現(xiàn)新舊標(biāo)準(zhǔn)的平滑過渡。
?智能操作界面?:配備觸控面板與按鍵雙重操作模式,支持測(cè)量條件快速切換,提升操作效率。
?數(shù)據(jù)輸出與擴(kuò)展?:通過USB存儲(chǔ)設(shè)備導(dǎo)出測(cè)量數(shù)據(jù),便于后續(xù)分析;可選配非接觸式光學(xué)傳感器,拓展波紋度檢測(cè)功能。
?自動(dòng)化設(shè)計(jì)?:電動(dòng)上下升降范圍達(dá)250mm,配備全自動(dòng)停止功能,簡(jiǎn)化復(fù)雜工件的定位與測(cè)量流程。
?三、典型應(yīng)用場(chǎng)景?
?機(jī)械加工?:檢測(cè)發(fā)動(dòng)機(jī)缸體、軸承等零件的表面粗糙度,確保摩擦性能與密封性。
?半導(dǎo)體制造?:分析晶圓表面平整度,控制光刻工藝中的焦點(diǎn)深度誤差。
?光學(xué)元件?:測(cè)量透鏡、反射鏡的輪廓精度,保障成像質(zhì)量與光路穩(wěn)定性。
該機(jī)型憑借其高精度、多功能性與易操作性,成為精密制造領(lǐng)域表面質(zhì)量控制的理想工具。
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