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檢測(cè)儀器
日本And艾安德
日本And艾安德非接觸式靜電測(cè)量?jī)x AD-1684A

產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2025-07-05
廠商性質(zhì):代理商
訪 問(wèn) 量 :219
028-68749778
| 品牌 | AND/日本愛(ài)安德 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |

日本And艾安德非接觸式靜電測(cè)量?jī)x AD-1684A
本設(shè)備突破傳統(tǒng)接觸式測(cè)量局限,采用三重平面感應(yīng)陣列技術(shù),實(shí)現(xiàn)0.1-50mm非接觸檢測(cè)距離可調(diào)。關(guān)鍵創(chuàng)新包括:
智能距離補(bǔ)償系統(tǒng):通過(guò)激光輔助定位自動(dòng)校正測(cè)量距離誤差(±0.5mm精度)
雙模式檢測(cè):
靜電場(chǎng)模式:±0.01kV~±20kV量程(分辨率0.001kV)
離子平衡模式:±200V范圍(符合ANSI/ESD S3.1標(biāo)準(zhǔn))
工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)接口:支持Modbus RTU協(xié)議,可接入MES系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)追溯
經(jīng)日本電子計(jì)測(cè)協(xié)會(huì)(JEMIMA)認(rèn)證:
響應(yīng)時(shí)間:0.3秒(90%量程)
溫度漂移:±0.005%/℃(5-35℃環(huán)境)
長(zhǎng)期穩(wěn)定性:±1%/年(標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)周期)
抗干擾能力:在30kV/m電磁場(chǎng)中誤差<3%
半導(dǎo)體制造
在12英寸晶圓檢測(cè)中:
識(shí)別0.5μm線路的靜電分布梯度
與接觸式測(cè)量?jī)x對(duì)比誤差<±2%
醫(yī)療包裝
完成FDA 21 CFR Part 11合規(guī)驗(yàn)證:
西林瓶表面電位映射(100點(diǎn)/分鐘)
數(shù)據(jù)完整性通過(guò)ALCOA+原則審計(jì)
科研領(lǐng)域
與AND GF-3000天平聯(lián)用:
實(shí)現(xiàn)μg級(jí)樣品的靜電-質(zhì)量耦合分析
發(fā)表3篇SCI收錄論文
提供NIST可追溯校準(zhǔn)證書(shū)
可選配自動(dòng)掃描支架(行程精度±0.1mm)
中國(guó)區(qū)技術(shù)中心配備Class 1000級(jí)校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室
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