產品展示
當前位置:首頁產品展示OTSUKA/日本大塚
產品分類
OTSUKA/日本大塚
相關文章
日本OTSUKA大塚顯微分光膜厚計OPTM系列 OPTM(オプティム)是利用顯微分光進行微小區域絕對反射率測量的裝置,能夠實現高精度的膜厚和光學常數解析。 可以非破壞性、非接觸性地測量各種薄膜、晶圓、光學材料等的涂層膜厚度或多層膜。測量時間可以達到每點1秒的高速測量。此外,還配備了即使初次使用也能輕松進行光學常數解析的軟件。
掃碼加微信